Schéma de principe et équipement courant de microscopie à force atomique. L’équipement présenté est un microscope à force atomique Nanoscope (Digital Instruments, USA). Un faisceau laser dirigé sur l’extrémité du cantilever est réfléchi vers une photodiode à deux ou quatre cadrans. Les déplacements du faisceau sur la photodiode permettront de détecter les mouvements du cantilever. Le positionnement dans les trois plans de l’espace (x, y, z), avec une précision voisine de la taille de l’atome, de la pointe par rapport à l’échantillon durant le balayage est assuré par des céramiques piézo-électriques. Le système est piloté par un ordinateur qui reconstitue les informations recueillies par la pointe sous forme d’images 3-D.