Utilisation de la microscopie à force atomique : principe et application à l’étude du VIH-1. A. Description du microscope à force atomique (AFM). La pointe (hauteur : 10 μm, diamètre à l’extrémité : 5 nm), montée sur un levier souple, est en interaction avec la surface. Sous l’effet d’une différence de tension électrique, le cristal piézo-électrique peut se contracter ou se dilater, permettant le déplacement de la surface se trouvant dessus, sur des distances micrométriques. La présence d’objets (particules virales) sur celle-ci modifie l’interaction pointe-surface, entraînant une déflexion du levier, mesurée par la réflexion d’un laser vers une photodiode à quatre cadrans. Il est ainsi possible de mesurer la topographie de la surface dans l’air ou dans un milieu physiologique. B. Mode imagerie. Image obtenue en milieu liquide (en haut) de la topographie d’une capside VIH-1 (à gauche) et d’une VLP VIH-1 (à droite) déposées sur une surface de mica fonctionnalisée par la polylysine. La couleur représente la hauteur comme on peut le voir sur les profils le long des sections indiquées. C. Mode indentation. Il n’y a plus de balayage dans les directions x et y, la pointe s’approche verticalement de la surface (au-dessus d’un virus, direction z). Lorsqu’il n’y a pas d’interaction, le levier est immobile (étape 1), sa déflexion est nulle. Au moment où la pointe entre en interaction avec l’objet, le levier et l’objet se déforment (étape 2). Par la suite, lorsque la déformation de l’objet est trop importante, seul le levier peut encore se déformer (étape 3). La force exercée par le levier est directement proportionnelle à sa raideur (connue) et à sa déflexion (mesurée).